高溫介電譜測量系統

發布者:先進材料研究院發布時間:2022-11-01浏覽次數:544

儀器名稱:高溫介電譜測量系統

儀器型号:DMS10001

儀器産家:佰力博科技(中國)有限公司

主要應用:測量樣品高溫的介電常數。

性能指标:

    1. 溫度範圍:RT~1000 °C

    2. 控溫精度:±0.5 ℃

    3. 升溫速率:0~10 ℃/min,典型值3 ℃/min

    4. 頻率範圍:20 Hz~30 MHz

    5. 測量精度:0.05% F.S

    6. 測量環境:空氣、流動氣氛、真空氣氛可選;

    7. 測量原理:平行闆電容器原理;

    8. 測試通道:單通道/四通道可選。

樣品要求:

滿足電學測量樣品的一般要求,一般外徑φ20 mmd5 mm的塊體。

測試案例:

Cole-Cole

電容

電容溫譜

電阻

介電頻譜

介電溫譜

奈奎斯特圖

諧振頻率

重複性

阻抗頻譜

阻抗溫譜

儀器說明:

可以與WK6500Agilent4294AKeysightE4980AE4990A阻抗分析儀無縫連接,具體測量指标由選配阻抗分析儀實際測量範圍和精度決定,可直接測量樣品的介電常數和介電損耗随溫度、頻率、時間、偏壓等變化的曲線,可以測量阻抗和相位角随溫度、頻率、偏壓、時間等變化的曲線,同時還可以測量壓電材料的機電耦合系數等。廣泛應用于高校科研院所和企業單位在電介質陶瓷方面的研究。