儀器名稱：X射線粉末衍射儀
儀器型号：SmartLab SE
儀器産家：日本理學
主要應用：主要用于固體材料的晶體結構表征和物相組成的确定，是日常測試中必備的儀器設備。
性能指标：
1. X-射線發生器：最大輸出功率3 kW, 額定電流10~60 mA；額定電壓20~60 kV，高壓穩定度± 0.005%。
2. X-射線光管：陶瓷銅X射線光管2.2 kW，最小精焦斑尺寸0.4×12 mm2。
3. 安全連鎖機構、劑量符合國标：£1.0 μSv/h(10 cm)。
4. 測角儀系統：配備三光學編碼系統，包括θs軸、θd軸和光學編碼驅動馬達。掃描方式：θ/θ可聯動或單動，角度最小步進1/10000 °。測角儀半徑：不小于300 mm。測角儀掃描範圍：﹣5 °~163 °（标準樣品台）。
5. 标準樣品台：水平樣品台。高溫樣品台：RT~1500 ℃，含真空泵，可在大氣、真空、惰性氣體下使用。Z-軸自動可調樣品台（選擇項）：可變更範圍：－10 mm~﹢2 mm。
6. 雙光路系統，多層膜透鏡。X-射線波長：Cu Ka。入射狹縫：0.01~7 mm，0.02 mm步進。散射狹縫：0.01~7 mm，0.02 mm步進。接收狹縫：0.01~7 mm，0.02 mm步進。
樣品要求：
無毒；無揮發性；非液體，可為粉末、塊狀、薄膜樣品。
1. 多晶粉末樣品需研磨過，用手搓起來無明顯顆粒感，越細測試效果越好，顆粒大小要求在0.1~10 μm之間，樣品用量一般在50 mg以上。
2. 塊狀樣品需表面平整光潔，尺寸大約2×2×0.2 cm以内。
3. 外延薄膜厚度在15～100 nm為佳。
測試項目：
1. 常規粉末樣品廣角：5~120°，小角：0.5~5°。
2. 常規測試速率：4 °/min、10 °/min、20 °/min；小角測試速率：1 °/min，0.5 °/min。
3. 薄膜樣品可測θ~2θ，搖擺曲線，XRR，倒空間mapping，薄膜樣品請标注測試面。
4. 高溫XRD最高可測到1500 ℃。
5. 該測試隻得到樣品的XRD原始譜圖，不包括對數據的處理和分析。
測試案例：
室溫XRD測試結果
1500 ℃下高溫XRD測試結果
XRR測試結果
φ面測試結果
儀器說明：
SmartLab SE型儀器X-射線衍射儀采用世界先進技術，利用X射線分析多晶材料的各種屬性，是一台具備物相分析、薄膜分析、小角散射分析、高溫相變等功能的綜合性儀器。儀器要求配置能快速變換的聚焦、平行光、一維半導體陣列檢測器等。儀器應具有自動調整光路系統、計算機控制狹縫系統、薄膜分析系統、變溫系統、小角散射系統硬件等及數據分析軟件等；全系統要求可以對系統光路或者附件進行光學識别，并提供專家系統輔助實驗條件；探測器必須适合從低角度(0.3 °)到高角度的信号檢測。