X射線單晶衍射儀

儀器名稱：X射線單晶衍射儀

儀器型号：XtaLAB Synergy-I

儀器産家：Rigaku Corporation

主要應用：

主要用于無機物、有機物、配合物、雜多酸等各類單晶材料的單晶結構、晶面定向等方面的表征和研究。

性能指标：

1. X射線發生裝置：10~50 kV（1 kV/步），0~1.0 mA（0.01 mA/步）。

2. X 射線快門：轉動快門。

3. 靶材料：Cu。

4. X射線洩漏量：防護罩外部洩漏X射線量< 1.0 μSv/h。

5. 可變發散角度，高分辨率時0.2 °，高強度時0.6 °。Kappa四圓測角裝置，步進馬達定位，四個角度均可自由轉動，滿足常規晶體結構分析和專業晶體學研究需要。(kappa)axis：﹣179~﹢179 deg。2θ(theta) axis：﹣179~﹢179 deg。ω(omega) axis：﹣179~﹢179 deg。φ(phi)axis：﹣360~﹢360 deg。

6. 樣品觀測用CCD照相機：≥70倍。

7. 孿晶：孿晶數據分析模塊，最大可支持7組分孿晶分析。

樣品要求：

高質量單晶樣品。晶體表面規則，無明顯裂紋。樣品中不得含有水分。樣品尺寸50 μm左右。多孔類或易潮解的樣品，請提前真空幹燥處理。

制樣要求：

1.用毛細玻璃絲粘晶體，晶體大小應适中，樣品應該粘牢固，防止轉動過程中掉落。

2.部分有機和MOF類單晶，母液是水時，制樣時應用油狀液體包裹

測試項目：

通過對單晶收集數據，解出晶體結構，得到鍵長、鍵角等一系列數據，但本測試不包含數據解析。

測試案例：

單晶測試直觀圖

解出結構展示

儀器說明：

XtaLAB Synergy-I型單晶衍射儀具有更快速的數據采集速度和能提供高質量數據等優勢。改進的Kappa角度儀的設計提供了更大的訪問交互空間以及更長和更短的晶體到探測器的距離。增加了一倍的電機速度可以提高數據采集速度，減少掃描之間的死時間，使數據采集時間明顯減少。Photonjet X射線源基于微聚焦封管技術，包括一個新的X射線管，新光路和新的對準裝置，可提供雙倍的能量密度和與之前相比更長的管壽命。CrysAlisPro軟件包是新型XtaLAB Synergy的神經中樞，通過高度并行的架構将所有新的速度和能量密度的改進捆綁在一起，産生了晶體材料3D結構快速系統。