原子力顯微鏡

儀器名稱：原子力顯微鏡

儀器型号：Cypher ES

儀器産家：牛津儀器

主要應用：主要用于陶瓷、單晶、薄膜等樣品的表面形貌和微結構的表征以及對微結構的調控。

性能指标：

1.    工作模式：輕敲模式、接觸模式、相位成像模式、橫向力模式、磁場力顯微技術(MFM)、壓電響應模式(PFM)、靜電力顯微技術(EFM)；能夠在液體或氣體環境下進行測量。

2.    掃描器：X，Y，Z三軸分離；掃描範圍：X，Y方向30 mm，Z方向5 mm。

3.    針尖電壓：10 V；高壓附件：可提高到150 V。

4.    溫度範圍：室溫到250 ℃。

樣品要求：

樣品可以是聚合物、陶瓷、單晶或者薄膜。陶瓷、單晶樣品應當預先抛光，并做好表面清理。樣品大小一般不超過1 cm，厚度不超過1 cm。

儀器說明：

原子力顯微鏡（AFM）是一種可用來研究包括絕緣體在内的固體材料表面結構的分析儀器。通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。掃描樣品時，可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。

測試項目：形貌，力曲線，PFM的兩種相位模式，寫疇，掃描電壓測電信号

測試案例：